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MikroMasch探針

光纖光譜儀,積分球,均勻光源,太赫茲系統應用專家
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石墨烯納米材料
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MikroMasch
原子力顯微鏡(AFM)探針
掃描探針顯微鏡(SPM)探針
Porous Aluminium 多孔鋁
HOPG 高定向熱解石墨
Test Structure

 

(Valid from 18 April 2011. Subject to change without notice)

 
Description
Part Number
Shipping unit
Price, EUR
High Resolution
1 Hi'RES-C Probes,
1 lever
HI'RES-C/14/AlBS
HI'RES-C/15/AlBS
HI'RES-C/16/AlBS
HI'RES-C/17/AlBS
HI'RES-C/18/AlBS
HI'RES-C/19/AlBS
5 chips 400
15 chips 900
1' Hi'RES-W Probes,
1 lever
HI'RES-W/14/AlBS
HI'RES-W/15/AlBS
HI'RES-W/16/AlBS
HI'RES-W/18/AlBS
5 chips 400
15 chips 900
Conductive Probes
2 DPER Probes
High Resolution
in Electrical
Measurements
DPER14
DPER15
DPER16
DPER17
DPER18
15 chips 450
50 chips 1150
3 DPE Probes
Low Noise
in Electrical
Measurements
DPE14
DPE15
DPE16
DPE17
DPE18
15 chips 450
50 chips 1150
4 NSC/CSC Probes
Silicon Tip,
1 lever
NSC14/Pt/no Al
NSC15/Pt/no Al
NSC16/Pt/no Al
CSC17/Pt/no Al
NSC18/Pt/no Al
NSC19/Pt/no Al
15 chips 360
50 chips 900
5 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC11/Pt/AlBS
NSC21/Pt/AlBS
CSC11/Pt/AlBS
CSC21/Pt/AlBS
15 chips 390
50 chips 1000
6 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC11/Pt/no Al
NSC21/Pt/no Al
CSC11/Pt/no Al
CSC21/Pt/no Al
15 chips 390
50 chips 1000
7 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC35/Pt/AlBS
NSC36/Pt/AlBS
CSC37/Pt/AlBS
CSC38/Pt/AlBS
15 chips 360
50 chips 900
8 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC35/Pt/no Al
NSC36/Pt/no Al
CSC37/Pt/no Al
CSC381/Pt/no Al
15 chips 360
50 chips 900
9 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 1 lever
NSC14/Cr-Au
NSC15/Cr-Au
NSC16/Cr-Au
CSC17/Cr-Au
NSC18/Cr-Au
NSC19/Cr-Au
15 chips 360
50 chips 900
10 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC11/Cr-Au
NSC21/Cr-Au
CSC11/Cr-Au
CSC21/Cr-Au
15 chips 390
50 chips 1000
11 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 3 levers
NSC35/Cr-Au
NSC36/Cr-Au
CSC37/Cr-Au
CSC38/Cr-Au
15 chips 360
50 chips 900
Magnetic Probes
12 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 1 lever
NSC14/Co-Cr
NSC18/Co-Cr
NSC19/Co-Cr
15 chips 390
50 chips 1000
13 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 3 levers
NSC35/Co-Cr
NSC36/Co-Cr
15 chips 390
50 chips 1000
Standard silicon Probes
14 NSC/CSC Probes
Silicon Tip,
1 lever
NSC14/AlBS
NSC15/AlBS
NSC16/AlBS
CSC17/AlBS
NSC18/AlBS
NSC19/AlBS
15 chips 300
50 chips 850
15 NSC/CSC Probes
Silicon Tip,
1 lever
NSC14/no Al
NSC15/no Al
NSC16/no Al
CSC17/no Al
NSC18/no Al
NSC19/no Al
15 chips 300
50 chips 850
16 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC11/AlBS
NSC21/AlBS
CSC11/AlBS
CSC21/AlBS
15 chips 390
50 chips 1000
17 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC11/no Al
NSC21/no Al
CSC11/no Al
CSC21/no Al
15 chips 390
50 chips 1000
18 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 3 levers
NSC35/AlBS
NSC36/AlBS
CSC37/AlBS
CSC38/AlBS
15 chips 300
50 chips 850
19 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 3 levers
NSC35/no Al
NSC36/no Al
CSC37/no Al
CSC38/no Al
15 chips 300
50 chips 850
Silicon probes, Force Constant calibrated Cantilevers
20 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 1 lever
NSC14/F/AlBS
NSC15/F/AlBS
NSC16/F/AlBS
CSC17/F/AlBS
NSC18/F/AlBS
NSC19/F/AlBS
5 chips 200
Long Scanning
21 LS Probes,
1 lever
DP14/LS/AlBS
DP15/LS/AlBS
DP16/LS/AlBS
DP17/LS/AlBS
DP18/LS/AlBS
DP19/LS/AlBS
15 chips 300
50 chips 900
Standard silicon Probes with Si3N4 coating
22 NSC/CSC Probes
Silicon Tip,
1 lever
NSC14/Si3N4/AlBS
NSC15/Si3N4/AlBS
NSC16/Si3N4/AlBS
CSC17/Si3N4/AlBS
NSC18/Si3N4/AlBS
NSC19/Si3N4/AlBS
15 chips 390
50 chips 1000
23 NSC/CSC Probes
Silicon Tip,
1 lever
NSC14/Si3N4/no Al
NSC15/Si3N4/no Al
NSC16/Si3N4/no Al
CSC17/Si3N4/no Al
NSC18/Si3N4/no Al
NSC19/Si3N4/no Al
15 chips 390
50 chips 1000
24 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC11/Si3N4/AlBS
NSC21/Si3N4/AlBS
CSC11/Si3N4/AlBS
CSC21/Si3N4/AlBS
15 chips 390
50 chips 1000
25 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC11/Si3N4/no Al
NSC21/Si3N4/no Al
CSC11/Si3N4/no Al
CSC21/Si3N4/no Al
15 chips 390
50 chips 1000
26 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 3 levers
NSC35/Si3N4/AlBS
NSC36/Si3N4/AlBS
CSC37/si3N4/AlBS
CSC38/Si3N4/AlBS
15 chips 390
50 chips 1000
27 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 3 levers
NSC35/si3N4/no Al
NSC36/Si3N4/no Al
CSC37/Si3N4/no Al
CSC38/Si3N4/no Al
15 chips 390
50 chips 1000
Torsional cantilever
28 TL Probes,
1 lever
TL01/AlBS
TL02/AlBS
5 chips
15 chips
50 chips
225
600
1700
TL01/no Al
TL02/no Al
5 chips
15 chips
50 chips
225
600
1700
Tipless cantilever
29 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 1 lever
NSC12/tipless/AlBS
CSC12/tipless/AlBS
15 chips
50 chips
300
850
NSC12/tipless/no Al
CSC12/tipless/no Al
15 chips
50 chips
300
850
NSC12/tipless/Cr-Au
CSC12/tipless/Cr-Au
15 chips
50 chips
360
900


 

Porous Aluminium
30 Porous Aluminium PA01 1 200

HOPG
31 HOPG
mosaic spread
3.5 +/- 0,5
ZYH + DS/1 mm
ZYH + DS/1,75 mm
ZYH + DS/2 mm
5 240
330
360
32 HOPG
mosaic spread
1.5 +/- 0,3
ZYD + SS/1 mm
ZYD + SS/1,5 mm
ZYD + SS/2 mm
ZYD + DS/1 mm
ZYD + DS/2 mm
3 144
180
216
276
420
33 HOPG
mosaic spread
0.8 +/- 0,2
ZYB + SS/1,5 mm
ZYB + DS/1 mm
ZYB + DS/2 mm
1 100
120
240
34 HOPG
mosaic spread
0.4 +/- 0,1
ZYA + DS/1 mm
ZYA + DS/2 mm
1 468
700
Test Structure
35 TGZ
Vertical Calibration
TGZ01
TGZ02
TGZ03
TGZ04
TGZ11
1 100
36 TGZ
NIST traceable
TGZ01C
TGZ02C
TGZ03C
1 250
37  TGX
Lateral Calibration
TGX01
TGX11
1 200
38  TGG
Grating with
Triangular Steps
TGG01 1 200
39  TGF
Grating with
Trapezoidal Steps
TGF11 1 200
Test Structure Sets
40 TGS01
Set of 3 gratings
TGZ01
TGZ02
TGZ03
1 200
41 TGS01C
Set of 3 gratings
NIST traceable
TGZ01C
TGZ02C
TGZ03C
1 650
42 TGS02
Set of 6 gratings
TGZ01
TGZ02
TGZ03
TGG01
TGX01
PA01
1 500
43 TS02C
Set of 6 gratings,
3 gratings
NIST traceable
TGZ01
TGZ02
TGZ03
TGG01
TGX01
PA01
1 950
44 TGS03
Set of 3 gratings
TGG01
TGX01
PA01
1 400

您可以訪問MikroMasch公司網站了解更多: www.spmtips.com

 

 

高定向熱解石墨(HOPG)

介紹
HOPG是一種新型高純度碳,為顯微分析人員提供了一種可重復使用的平滑表面。與云母不同的是,HOPG完全無極性適用于元素分析,并且分析信號中僅有碳原子背景信號。HOPG優良的表面光滑性使其可以作為空白背景,除非分辨率達到原子級水平。在HOPG發現之初,其被稱為“初生石墨”。請不要將SPI Supplies的HOPG和玻璃態碳相混淆。

特性:

薄層狀結構
Gr普通石墨和特殊HOPG均系薄層狀結構,就像云母、二硫化鉬及其他分層物質一樣,由平的堆積層組成。所有這些薄層狀的物質,其平面比層與層之間承受更大的力量,這也說明了這樣的物質容易劈開的特征。

開裂特性- HOPG具有層狀結構,會像云母一樣開裂。通常的方法是先用一條膠帶(如3M “Scotch Brand”雙面膠)粘在HOPG的表面上,然后將其撕下,膠帶上就會粘有一層薄薄的HOPG。新裂表層可以用作樣本基底材料。那么每個樣本上會有多少裂片呢?這很難講清楚。對于好的HOPG(如SPI-1或ZYA),每2mm厚的區域中大概含有20到40個裂片。我們無法保證裂片的確切數量,但如果您愿意與我們分享您寶貴的工作經驗,我們會席耳恭聽的。HOPG的等級越低,每2mm厚的區域中裂片數量就越少,但具體有多少我們也無法準確預測出。

基面圖像-用原子級分辨率的掃描隧道顯微鏡拍攝HOPG的結構圖像,會得到兩種圖像。通常觀測到的是一個緊密排列矩陣的圖像;在此矩陣中,每個原子被六個相鄰原子包圍,任意兩個原子間距為0.246nm。在理想條件下,特別是探針頭真正為單原子時,您將看到石墨的六邊形“鐵絲網”結構;其中,原子的中心間距為0.1415nm。這個距離是碳原子的基本屬性,與石墨等級無關。多數情況下對HOPG的基面進行觀察時,圖像就是此種緊密排列的矩陣。

用作石墨單色器:據報告,SPI Supplies提供的HOPG(尤其是SPI-1和ZYA級的)比任何其它物質都能更有效地進行X射線和中子的衍射。例如對X射線來說,使用HOPG其強度是使用氟化鋰晶體的5倍。使用好的HOPG的單偏轉聚焦單色器,產生的馬賽克擴散小,其亮度是同分辨率氟化鋰單色器的3倍。

平整度/粗糙度- HOPG具有多晶結構,其尺寸大小不一。好的HOPG,其晶體可達10mm。新裂表層由多大幾個至十幾個的0.2-0.3nm的原子梯級組成。HOPG質量越好,表面粗糙度越小,新裂表層原子梯級數越少。

馬賽克擴散- 此項指標用于衡量HOPG的定向度。馬賽克擴散越小,HOPG定向度越高,從而裂片表面呈現的梯級越少。馬賽克擴散越低,HOPG價格越高,但其可分裂性越好,產生的裂片相應越多,這在某種程度上提高了材料的性價比。

柱狀結構:
柱狀結構在材料平板內部呈垂直分布,在側表面可以看到顆粒邊界。換言之,馬賽克擴散沿顆粒邊界偏離柱狀結構正交軸的角度進行。

高溫中使用
越來越多的科研領域需要使用HOPG,越來越多的場合需要良好的耐高溫特性。以下信息可能會對您有所幫助:

  • 空氣中: > 500°C/932°F (開始燃燒)
  • 0.1托真空中: > 2500°C/4532°F
  • 惰性環境中(N, Ar, He) > 3500°C/6332°F

z軸校準:
對HOPG裂片表面凹凸部分的高度沒有進行過校準。然而,晶體表面具有固定的結構,單階高度為0.34nm。由于進行了分裂處理,您會很容易地發現梯級結構。另一種方法是置于烘箱中,通過氧化作用在表面產生蝕刻坑。

高純度- 兩種品牌所有等級的HOPG都具有較高的純度,雜質含量在10ppm級或更低。

化學穩定性:
HOPG對包括四氧化鋨在內的所有化學物質都具有較高的化學穩定性。然而,當其置于SPI Supplies Plasma Prep II等離子蝕刻機產生的氧等離子體中時,HOPG會迅速消失。

導熱性:
由于HOPG各向異性的特點,不同方向上其導熱性也不同。熱導率沿基面方向為1800Wt/C,沿垂直基面方向為8-10Wt/C。任何類型的HOPG,其熱導率都比較高。導熱鱗片與其它HOPG有相同

 


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